Pwodiksyon Whale4343PSI se yon kalite pòtab ak ti bri x-ray detektè panèl plat ki baze sou teknoloji Silisyòm amorphe.A-Si teknoloji ki baze detektè posede anpil avantaj ki pa disponib ak lòt teknoloji, pwodiksyon Whale4343PSI pran yon bon jan kalite imaj segondè ak yon seri dinamik gwo, tou Whale4343PSI posede etap milti-pran, fonksyon sa a fè li posib ke detektè a ka tou de apwopriye pou segondè sansiblite ak gwo kondisyon ranje dinamik.Ki baze sou karakteristik pi wo yo, Whale4343PSI detektè ka lajman itilize nan sekirite, X Ray Chip Counter, ak tès endistriyèl GIS.
Segondè ranje dinamik
Long lavi tan
| Teknoloji | |
| Capteur | A-Si |
| Scintillator | GOS / CSI |
| Zòn aktif | 430 x 430 mm |
| Pixel Matrice | 3072 x 3072 |
| Pitch Pitch | 140 μm |
| AD Konvèsyon | 16 bit |
| Entèfas | |
| Entèfas kominikasyon | Gigabit Ethernet |
| Kontwòl Ekspozisyon | Deklanche Antre (Kwen oswa Nivo) / Deklanche soti (Kwen oswa Nivo) |
| Tan akizisyon imaj | ≤1 segonn |
| Sistèm operasyon | Windows7 / Windows10 OS 32 bits oswa 64 bits |
| Pèfòmans teknik | |
| Rezolisyon | 3.5 lp / mm |
| Enèji Range | 40-160 KV |
| Lag | <1% 1ye ankadreman |
| Ranje dinamik | ≥86dB |
| Sansiblite | 540 lsb/uGy |
| SNR | 48 dB @(20000lsb) |
| MTF | 70% @(1 lp/mm) |
| 38% @(2 lp/mm) | |
| 21% @(3 lp/mm) | |
| DQE | 58% @(0 lp/mm) |
| 41% @(1 lp/mm) | |
| 25% @(2 lp/mm) | |
| Mekanik | |
| Dimansyon (H x W x P) | 460 x 460 x 15 mm |
| Pwa | 4.6 kg |
| Materyèl Pwoteksyon Capteur | Fib Kabòn |
| Materyèl Lojman | Segondè fòs aliminyòm alyaj |
| Anviwònman | |
| Ranje Tanperati | 10 ~ 35 ° ℃ (fonksyone); -10 ~ 50 ℃ (depo) |
| Imidite | 30 ~ 70% RH (ki pa kondansasyon) |
| Vibration | IEC/EN 60721-3 klas 2M3 (10 ~ 150 Hz, 0.5 g) |
| Chòk | IEC/EN 60721-3 klas 2M3 (11 ms, 2 g) |
| Pousyè ak dlo rezistan | IPX0 |
| Pouvwa | |
| Pwovizyon pou | 100 ~ 240 VAC |
| Frekans | 50/60 Hz |
| Konsomasyon | 14W |
| Aplikasyon | |
| Endistri | Sekirite, X Ray Chip Counter, Endistriyèl tès GIS |
| Dimansyon mekanik | |
 | |
Pwodiksyon Whale4343PSI se yon kalite pòtab ak ti bri x-ray detektè panèl plat ki baze sou teknoloji Silisyòm amorphe.A-Si teknoloji ki baze detektè posede anpil avantaj ki pa disponib ak lòt teknoloji, pwodiksyon Whale4343PSI pran yon bon jan kalite imaj segondè ak yon seri dinamik gwo, tou Whale4343PSI posede etap milti-pran, fonksyon sa a fè li posib ke detektè a ka tou de apwopriye pou segondè sansiblite ak gwo kondisyon ranje dinamik.Ki baze sou karakteristik pi wo yo, Whale4343PSI detektè ka lajman itilize nan sekirite, X Ray Chip Counter, ak tès endistriyèl GIS.
